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计算成像系统
线阵2.5D相位偏折成像系统
计算成像系统 线阵2.5D相位偏折成像系统

产品特点:告别反光干扰,细小缺陷清晰可辨, 不用3D也能看“立体”,一个光源即可应对多种缺陷

应用范围: 工业零部件表面质量检测、芯片与晶圆检测、PCB 板检测、电子封装件检测、薄膜厚度测量、复合材料表面、透镜 / 棱镜检测。

产品列表

PRODUCT LIST

  • 型号
  • 颜色
  • 功率
  • 发光面尺寸(灯珠排数)
  • 长(外径)
  • 宽(内径)
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