2025重磅发布——线阵2.5D相位偏折成像系统
01 产品介绍
CST线阵2.5D相位偏折成像系统采用先进的相位偏折技术，通过线阵工业相机扫描与相位偏折算法实现高精度三维形貌检测。系统突破传统成像局限，具备非接触式测量、微米级分辨率与快速成像能力，可精准捕捉物体表面微观形变及复杂轮廓。广泛应用于工业检测、精密制造等领域，为质量控制与形态分析提供可靠解决方案。
02 成像原理
工作时，光源生成正弦条纹并投影到待测物体表面，相机采集调制后的条纹图像，通过标定相机内参和几何参数计算相位信息，最终转换为高度信息，还原物体形貌。
机器视觉线扫检测项⽬中，通过相位成像光源输出⾼频信号给线阵相机，相机采集图像后，图像数据直接传⾄图像预处理器，并处理获得对应的8张预处理效果图。
03 工作流程
04 产品特点
- 适⽤于反光光滑表⾯产品的外观检测项⽬，尤是检测凹凸点、压伤、变形等缺陷的项⽬；
- 清晰：系统有⽹⼝或cameralink接⼝的4K、8K、16K相机可选配；
- 快速：相位光源最⾼⽀持200KHz超⾼速投射频率，控制器响应时间<1μs；
- 实⽤：相位偏折光源正弦周期、⽅向可配置，正弦波形可根据产品特征和背景情况调节；
- 易⽤：光源安装可选配线激光器，对位安装更⽅便；产品运动⽅向不受限，前进、后退均可使⽤；
- ⾼效：⾼效的图像预处理系统，⽀持本地SDK调⽤。
05 应用案例
相位偏折成像技术，适⽤于光滑类镜⾯物体的表⾯检测，可检测划痕、异物、擦伤、细微凹坑、细微凸点等多种缺陷。在3C、锂电、汽⻋及五⾦等⾏业应⽤⼴泛。
例：基板外观检测
项目难点：金属板反光性强，鼓包与脏污难区分。
成像效果：成像均匀无干扰，鼓包特征清晰易捕捉。
例：软包电池外观检测
项目难点：透明贴纸透光率⾼，⽓泡缺陷与背景难区分。
成像效果：消除背景干扰影响，凸显微小气泡缺陷。
例：屏幕保护膜外观检测
项目难点：屏幕反光性强，压伤、气泡缺陷特征小。
成像效果：去除反光⼲扰影响，缺陷特征清晰可⻅。
例：蓝膜电池外观检测
项目难点：电池表⾯保护膜颜⾊和反光特性有⼲扰，脏污与压伤难区分。
成像效果：提取⾼度信息，能够区分表⾯脏污与压伤、划痕。
06 系统搭配
光源生成正弦条纹并投影到待测物体表面，相机采集调制后的条纹图像，通过标定相机内参和几何参数计算相位信息，最终转换为高度信息，还原物体形貌。
更多产品蓄势待发，敬请期待。
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