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企业动态

「零损伤」高精度:CST面阵2.5D相位偏折新方案

面阵2.5D相位偏折成像系统

无接触  零损伤   高精度

 

01  产品介绍

CST⾯阵2.5D相位偏折成像系统是⼀款基于相位偏折技术的⾼精度光学检测系统,专为光滑类镜⾯物体的表⾯缺陷检测⽽设计。通过计算成像技术,系统能够精准捕捉物体表⾯的相位变化,还原其三维形貌特征。适⽤于光滑类镜⾯物体的表⾯检测,实现对划痕、异物、擦伤、细微凹坑、凸点等多种缺陷的⽆损检测。

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02  成像原理

相位光源投影的正弦条纹图案在横、纵⽅向各有四种,以获取产品表⾯在横、纵两个维度上的相位信息。 对这两个维度的相位信息进⾏计算,准确还原产品表⾯的形貌特征。

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本成像系统支持8张图像数据的实时采集与处理,通过相位光源输出触发信号给面阵相机,相机依次采集对应投射条纹图案的效果图,而后8张图像数据直接传至图像预处理器,并处理获得8张预处理效果图。

 

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03  工作流程

 

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04  产品特点

  •                                                    适用于反光光滑表面产品的外观检测项目,尤是检测凹凸点、压伤、变形等缺陷的面阵项目;

  •                                                    清晰:系统有网口或USB3.0接口的多种全局相机可选配;

  •                                                    快速:相位光源最⾼⽀持200KHz超⾼速投射频率,控制器响应时间<1μs;

  •                                                    实用:相位偏折光源正弦周期、方向可配置,正弦波形可根据产品特征和背景情况调节;

  •                                                    易用:光源控制器支持串口、网口通讯,支持外部硬件触发或内触发;

  •                                                    高效:高效的图像预处理系统,支持本地SDK调⽤。

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05  应用案例

相位偏折成像技术,适⽤于光滑类镜⾯物体的表⾯检测,可检测划痕、异物、擦伤、细微凹坑、细微 凸点等多种缺陷。在3C、锂电、汽⻋及五⾦等⾏业应⽤⼴泛。

 

蓝膜电池外观检测

项⽬难点:缺陷类别兼容难,表⾯脏污、⿎包、破损、划伤需区分。 

成像效果:2.5D技术可区分平⾯缺陷与凹凸缺陷。

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屏幕外观检测

项目难点:屏幕镜面反光强,细小缺陷难检测。

成像效果:消除反光干扰影响,凸显微小压伤、划痕缺陷。

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硅⽚外观检测

项⽬难点:硅⽚镜⾯反光强,缓慢变形缺陷难检测。

成像效果:消除反光⼲扰影响,凸显缓慢变形类缺陷。

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⾦属⽚外观检测

项⽬难点:缺陷类型复杂且形态差异⼤(如划痕、凹坑、裂纹等),表⾯⾦属纹路有⼲扰。 

成像效果:2.5D光源结合多⻆度阴影增强微⼩缺陷的三维形貌表达,有效区分表⾯纹理与真实缺陷。

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06  系统搭配

CST面阵相位偏折成像系统由面阵相位光源及控制器、面阵相机及镜头、工控机、图像预处理算法包等组合而成。其中,面阵相位光源及控制器、图像预处理算法包是相位偏折成像系统的核心组件。用户可根据应用场景的实际需求,选择合适的CST相位光源,同时搭配相应的面阵相机(镜头),并结合CST图像预处理算法,以满足图像处理的需要。核心组件如下:

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